기기명	전계방사형 주사전자현미경
영문명	FE-SEM(Field Emission-Scanning Electron Microscope)
분류	나노소재 측정분석장비
장비상태	정상 ○
기기모델	s-4800
설치장소	연구원본관 측정분석실
제조회사	Hitachi
구입일자	2009-12-30
장비담당	전화 : 033-452-9712
장비상세정보
장비사양	-분해능 : 1.0nm(at 15kV), 1.4nm(at 1kV) -배율 : x20~x800,000 -전자총 : Cold cathode field emission -가속전압 : 0.5 to 30kV -Specimen stage : X, Y 0~50mm, Z 1.5~30mm, T -5˚~+70 ˚, R 360˚
장비활용	-전자총에 전압과 전류를 접속하여 형성된 전자빔을 이용하여 금속, 무기물질, 고분자의 표면과 단면구조를 분석 -Metal-graphene 합성 분말 및 나노사이즈 분말 형상 측정

전계방사형 주사전자현미경
영문명: FE-SEM(Field Emission-Scanning Electron Microscope)
기기분류: 나노소재 측정분석장비
장비상태: 정상 ○
기기모델: s-4800
설치장소: 연구원본관 측정분석실
제조회사: Hitachi
구입일자: 2009-12-30
장비담당: , 033-452-9712
장비상세정보
장비사양: -분해능 : 1.0nm(at 15kV), 1.4nm(at 1kV) -배율 : x20~x800,000 -전자총 : Cold cathode field emission -가속전압 : 0.5 to 30kV -Specimen stage : X, Y 0~50mm, Z 1.5~30mm, T -5˚~+70 ˚, R 360˚
장비활용: -전자총에 전압과 전류를 접속하여 형성된 전자빔을 이용하여 금속, 무기물질, 고분자의 표면과 단면구조를 분석 -Metal-graphene 합성 분말 및 나노사이즈 분말 형상 측정