기기명 | Raman 분석기 | |
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영문명 | Raman Microscope Spectrometer | |
분류 | 나노소재 측정분석장비 | |
장비상태 | 정상 ○ | |
기기모델 | R200-532 | |
설치장소 | 연구원본관 측정분석실 | |
제조회사 | Bruker | |
구입일자 | 2012-11-21 | |
장비담당 | 전화 : 033-452-9712 |
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장비상세정보 | ||
장비사양 | 1. Olympus BX51 reflected light microscope - DF/BF illuminator - trinocular head - 2 eye pieces - 1 CCD video camera - manual XY stage - 20x objective, bright field (Olympus MPLN 20; NA=0.40; WD=1.30mm) - 50x objective, bright field (Olympus MPLN 50; NA=0.75; WD=0.38mm) 2. Microscope Attachment - laser: 532nm 20mW, optional higher power (50mW) or additional 785nm 100mW - detector: CCD, 1024x256 pixels, TE-cooled - two gratings for high resolution and wide range - motorized confocal pinhole and slit combination - automatic calibration - laser power control, 100%, 50%, 25%, 10%, 1% - excellent sensitivity 3. Software - OPUS, with Sure_Cal for calibration of Raman spectra - OPUS/video 4. Enclosure : Class 1 Laser Safety with interlocks |
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장비활용 | 1. 각 물질 고유의 RAMAN 산란 Spectrum 파장을 해석하여 물질의 정성/정량 분석, 신물질 등의 구조 분석 2. 플라즈마를 이용하여 합성된 나노신소재의 성분 분석 및 고유 특성 분석 |
Raman 분석기 |
영문명: Raman Microscope Spectrometer |
기기분류: 나노소재 측정분석장비 |
장비상태: 정상 ○ |
기기모델: R200-532 |
설치장소: 연구원본관 측정분석실 |
제조회사: Bruker |
구입일자: 2012-11-21 |
장비담당: , 033-452-9712 |
장비상세정보 |
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장비사양: 1. Olympus BX51 reflected light microscope - DF/BF illuminator - trinocular head - 2 eye pieces - 1 CCD video camera - manual XY stage - 20x objective, bright field (Olympus MPLN 20; NA=0.40; WD=1.30mm) - 50x objective, bright field (Olympus MPLN 50; NA=0.75; WD=0.38mm) 2. Microscope Attachment - laser: 532nm 20mW, optional higher power (50mW) or additional 785nm 100mW - detector: CCD, 1024x256 pixels, TE-cooled - two gratings for high resolution and wide range - motorized confocal pinhole and slit combination - automatic calibration - laser power control, 100%, 50%, 25%, 10%, 1% - excellent sensitivity 3. Software - OPUS, with Sure_Cal for calibration of Raman spectra - OPUS/video 4. Enclosure : Class 1 Laser Safety with interlocks |
장비활용: 1. 각 물질 고유의 RAMAN 산란 Spectrum 파장을 해석하여 물질의 정성/정량 분석, 신물질 등의 구조 분석 2. 플라즈마를 이용하여 합성된 나노신소재의 성분 분석 및 고유 특성 분석 |