기기명 | X선 회절 분석기 | |
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영문명 | XRD(X-Ray Diffraction) | |
분류 | 나노소재 측정분석장비 | |
장비상태 | 정상 ○ | |
기기모델 | D2 PHASER | |
설치장소 | 연구원본관 측정분석실 | |
제조회사 | Bruker | |
구입일자 | 2011-12-06 | |
장비담당 | 전화 : 033-452-9712 |
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장비상세정보 | ||
장비사양 | -Max.useable angular range : -3~160˚2Theta -Accuracy : ±0.02˚throughout the entire measuring range -Achievable peak width : <0.05˚ -Alignment Not needed, factory aligned -X-ray wavelenths Cu, standard ceramic sealed tube -X-ray generation : 30kV/10mA -Power supply : 90-250V |
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장비활용 | - 시료의 X선 원소분석, X선 회절 분석, 결정구조, 결정립 크기, 면간격, 박막 두께, 배향된 방향분석 - 증착 film에 대한 구조특성 측정 및 해석 - 디스플레이/반도체 소자의 X-선 회절에 의한 소자내의 고유 결정상 측정분석 |
X선 회절 분석기 |
영문명: XRD(X-Ray Diffraction) |
기기분류: 나노소재 측정분석장비 |
장비상태: 정상 ○ |
기기모델: D2 PHASER |
설치장소: 연구원본관 측정분석실 |
제조회사: Bruker |
구입일자: 2011-12-06 |
장비담당: , 033-452-9712 |
장비상세정보 |
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장비사양: -Max.useable angular range : -3~160˚2Theta -Accuracy : ±0.02˚throughout the entire measuring range -Achievable peak width : <0.05˚ -Alignment Not needed, factory aligned -X-ray wavelenths Cu, standard ceramic sealed tube -X-ray generation : 30kV/10mA -Power supply : 90-250V |
장비활용: - 시료의 X선 원소분석, X선 회절 분석, 결정구조, 결정립 크기, 면간격, 박막 두께, 배향된 방향분석 - 증착 film에 대한 구조특성 측정 및 해석 - 디스플레이/반도체 소자의 X-선 회절에 의한 소자내의 고유 결정상 측정분석 |